利用晶閘管作為無觸點開關的高低壓無功補償裝置，它根(gen)據晶(jing)閘管(guan)(guan)能夠精確觸發的特性(xing)，快速(su)平穩地(di)投(tou)入(ru)或切除補償電(dian)容(rong)器(qi)。因(yin)此，晶(jing)閘管(guan)(guan)對于電(dian)容(rong)補償裝置有(you)著至關重要(yao)(yao)的作用。如此一來(lai)，會判別、檢查晶(jing)閘管(guan)(guan)損(sun)害的原因(yin)就有(you)重要(yao)(yao)的意義。安徽(hui)得(de)潤電(dian)氣專業生產(chan)高(gao)低壓無(wu)功補償柜(ju)將近十年的時間(jian)，對這方面還是比較在行的。那就讓安徽(hui)得(de)潤電(dian)氣來(lai)帶我(wo)們尋找晶(jing)閘管(guan)(guan)損(sun)害的原因(yin)，主要(yao)(yao)有(you)以(yi)下幾個方法：

當晶(jing)閘(zha)管損(sun)壞(huai)(huai)后需要檢查(cha)分析其原因(yin)時，可把(ba)管芯(xin)從冷卻套(tao)中取出(chu)，打開芯(xin)盒(he)再取出(chu)芯(xin)片，觀察其損(sun)壞(huai)(huai)后的痕跡，以判斷是何原因(yin)。如下(xia)就是幾種常見的晶(jing)閘(zha)管損(sun)壞(huai)(huai)原因(yin)的判別方法：

1.電壓擊穿

晶(jing)閘管因不(bu)能(neng)承(cheng)受電壓(ya)(ya)而損壞，其芯片(pian)中有一個(ge)光(guang)潔的小孔，有時需用擴大鏡才能(neng)看見。其原因可(ke)能(neng)是管子本身耐壓(ya)(ya)下降或被電路斷開時產生(sheng)的高電壓(ya)(ya)擊穿。

2.電流損壞

電流損壞的(de)痕(hen)跡(ji)特(te)征是芯片被(bei)燒成一個凹坑，且粗糙，其(qi)位置在(zai)遠(yuan)離控(kong)制極上。

3.電流上升率損壞

其(qi)痕跡(ji)與電(dian)流損壞相同，而其(qi)位置在(zai)控(kong)制極附近或就在(zai)控(kong)制極上。

4.邊緣損壞

若發(fa)生在(zai)芯片(pian)外圓倒(dao)角處，有細(xi)小光潔小孔。用放大鏡可看到(dao)倒(dao)角面上有細(xi)細(xi)金屬物劃痕。這是制造(zao)廠家安裝不慎所(suo)造(zao)成(cheng)的。它導致電壓擊穿。

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